本シリーズは、サンユーの製品群の中でも長い歴史を持つ製品です。
高温度環境試験規格に準じ、試験コスト低減のための動作復旧時間の改善が実現しました。DRAM(KGD検査)、Flash Memoryの高温度試験、車載向け半導体DC機能試験、マイコンやDSPの環境試験などに使用されています。
MXG/MXJ 1Aシリーズ
注)すべてのデータシートの仕様および製造状況は、予告なく変更される場合があります。
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